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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心專用儀器儀表DP-TS-2便攜式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/電阻率檢測(cè)儀

便攜式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/電阻率檢測(cè)儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

便攜式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/電阻率檢測(cè)儀 型號(hào):DP-TS-2
測(cè)量范圍寬、度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式
體積僅為:125mm(寬)*145mm()*245mm(深)

產(chǎn)品型號(hào):DP-TS-2
更新時(shí)間:2017-11-05
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:1115

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 便攜式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/電阻率檢測(cè)儀 型號(hào):DP-TS-2

測(cè)量范圍寬、度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式
體積僅為:125mm()*145mm()*245mm()


DP-TS-2/TS-2A
型便攜式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、度、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。
本儀器廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能單晶(多晶)廠家為硅材料的分選測(cè)試,半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

 術(shù)  標(biāo)

便攜式四探針測(cè)試儀按測(cè)量范圍可選配DP-TS-2型或DP-TS-2A型,區(qū)別:測(cè)量范圍不樣。

 

DP-TS-2測(cè)量范圍

電阻率:0.011999.9Ω.cm;
方塊電阻:0.119999Ω/□;

DP-TS-2A測(cè)量范圍

電阻率:0.001199.99Ω.cm;
方塊電阻:0.011999.9Ω/□;

DP-TS-2恒流源

電流量程分為100μA1mA兩檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)

DP-TS-2A恒流源

電流量程分為1mA、10mA兩檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表

量程及表示形式:000.00199.99mV;    
分辨力:10μV
輸入阻抗:>1000MΩ;
度:±0.1% ;
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;性、量程自動(dòng)顯示;

四探針探頭基本標(biāo)

間距:1±0.01mm
針間緣電阻:≥1000MΩ;
機(jī)械游移率:≤0.3%
探針:碳化鎢或速鋼Ф0.5mm;
探針壓力:516 牛頓(總力)

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)

(見(jiàn)探頭附帶的合格證)

模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( JJG508-87)

、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1

整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差

(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5%

整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度

≤5%

外型尺寸

125mm()*145mm()*245mm()

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

溫度:23±2℃;
相對(duì)濕度:≤65%;
無(wú)頻干擾;
無(wú)強(qiáng)光直射;

  

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