低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀

發(fā)布時間：2012/5/8

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低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀型號:DP-MCP-T370

四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認自動測量能，可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準模式。檢查探頭校準片（另售），以確認Roresuta AX測試值的準確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器。

規(guī)格
測量方法	四端四探針法施加恒定電流的方法
測量范圍	10 ^-2?10 ⁶ Ω
標準配置	四探針探頭（ASP）AC適配器說明書檢查確認書

選項

探頭選項
類型	適用被測試樣品	型號
ESP	對于異類樣本	MCP - TP08P
PSP	小樣本的薄膜	MCP - TP06P
QPP	對于小樣本	MCP - TPQPP
TFP	有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜	MCP - TFP

校準塊

型號：MCP - TRF1

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上一條實驗室剪切分散乳化機剪切分散乳化機分散機
下一條轉(zhuǎn)動慣量實驗儀

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低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀